Institut für Metallurgie

Arbeitsgruppe Metallurgische Prozesstechnik


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Sekundärionen-Massenspektrometer Cameca IMS 3f & 5f (SIMS)

Siehe auch Laborgeräte der TUC


Gerätebezeichnung Kurzform Zweck Gebäudenr. Verantwortlich Tel,Email
Sekundärionen-Massenspektrometer Cameca IMS 5f
Baujahr: 1993
SIMS 5f isotopenselektive Tiefenprofilanalyse 0500 Dr. Peter Fielitz 2634 peter.fielitz@tu-clausthal.de
Sekundärionen-Massenspektrometer Cameca IMS 3f
Baujahr: 1979
SIMS 3f isotopenselektive Tiefenprofilanalyse, qualitative Spurenanalyse 0500 Dr. Lars Dörrer 2009 lars.doerrer@tu-clausthal.de

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